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基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案 - 第二十一届全国测控、计量、仪器仪表学术会议暨2011中国仪器仪表与测控技术大会.pdf

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2025-12-14 03:58 | 查看全部阅读模式

本文提出了一种基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案，旨在提高测试效率并降低功耗。通过优化计数器结构，减少了测试过程中产生的冗余数据，提升了测试覆盖率。该方案适用于集成电路的内建自测试，具有良好的应用前景。

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基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案 - 第二十一届全国测控、计量、仪器仪表学术会议暨2011中国仪器仪表与测控技术大会

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仪器仪表, 学术会议, 中国, 计数器, 大会

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