基于可控微扫描的亚像元成像与非均匀性校正一体化处理算法 - 2011全国光电子与量子电子学技术大会.pdf

该论文提出了一种基于可控微扫描的亚像元成像与非均匀性校正一体化处理算法。通过微扫描技术提高图像分辨率，同时实现对探测器非均匀性的校正。该方法有效解决了传统成像系统中因探测器响应不一致导致的图像质量下降问题，提升了成像精度和系统稳定性，适用于高精度光电子成像领域。

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2025-12-14 03:50 上传 基于可控微扫描的亚像元成像与非均匀性校正一体化处理算法 - 2011全国光电子与量子电子学技术大会.pdf

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