论文《半导体集成电路贮存寿命加速试验技术》探讨了通过加速试验方法评估集成电路贮存寿命的技术。文章分析了影响集成电路长期稳定性的因素，提出了有效的加速试验方案，以提高产品可靠性评估效率。该研究为半导体集成电路的质量控制和寿命预测提供了理论依据和技术支持，对提升产品质量和市场竞争力具有重要意义。
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