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一种基于Loopback结构的RF IC内建自测试方法 - 第十四届全国容错计算学术会议.pdf

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2025-12-14 00:55 | 查看全部阅读模式

论文《一种基于Loopback结构的RF IC内建自测试方法》提出了一种利用Loopback结构实现射频集成电路内建自测试的新方法。该方法通过将信号路径闭环，实现对系统功能的自我检测，提高了测试效率和准确性。文章在第十四届全国容错计算学术会议上发表，为RF IC的可靠性测试提供了新思路。

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一种基于Loopback结构的RF IC内建自测试方法 - 第十四届全国容错计算学术会议

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