随机振动分析在汽车电子产品结构失效分析中的应用

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本文通过数值分析的方式对某汽车BCM支架结构的VonMises的概率分布进行了分析,并得到其所满足的双参数韦伯分布,进一步得到结构的失效概率,以此验证了其抵抗振动载荷的能力.结果表明:采用随机响应有限元分析，并应用本文方法可以很方便地由应力分量的功率谱密度求出VonMises应力的韦伯参数。结合Goodman平均应力修正可以在汽车电子产品的概念设计阶段对结构的可靠性进行评估。
作者：薛学贵
作者单位：东南(福建)汽车工业有限公司,福建福州350119
母体文献：福建省汽车工程学会2015年学术年会论文集
会议名称：福建省汽车工程学会2015年学术年会  
会议时间：2015年10月1日
会议地点：厦门
主办单位：福建省汽车工程学会
语种：chi
分类号：
关键词：汽车BCM支架  电子产品  失效机理  振动载荷  功率谱密度  韦伯参数
在线出版日期：2018年4月20日
基金项目：
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