DB61_T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程

主要技术内容：本文件规定了大功率半导体分立器件（以下简称器件）间歇寿命试验的术语和定义、试验系统、试验程序、失效判据及试验报告的要求。本文件适用于大功率双极型晶体管、场效应晶体管、绝缘栅场效应晶体管、二极管等半导体分立器件的间歇寿命试验。
起草单位：西安卫光科技有限公司、中电科西安导航技术有限公司、西安西岳电子技术有限公司
起草人：王嘉蓉、安海华、薛红兵、赵辉。

中文标题：大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
标准号：DB61/T1448-2021
发布日期：2021-03-22
实施日期：2021-04-22
制修订：制定
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.08
技术归口：由陕西省工业和信息化厅
批准发布部门：陕西省市场监督管理局提出部门
西安卫光科技有限公司
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
标准类别：通用

按地区分类：陕西省
按国民经济行业分类：I 信息传输、软件和信息技术服务业

关键词：DB61/T,由陕西省工业和信息化厅,信息传输软件和信息技术服务业,规程,半导体,寿命

文件名：DB61_T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程.pdf

2024-10-3 12:49 上传 DB61_T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程.pdf

文件大小:

504.78 KB

下载次数:

60

高速下载