GBT 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范
Semiconductordevices.Part10：Genericspecificationfordiscretedevicesandintegratedcircuits

摘要:本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则：——电特性测试方法；——气候和机械试验；——耐久性试验。

标准编号：GB/T4589.1-2006
标准类型：
发布单位：CN-GB
发布日期：2006年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2007年1月1日
关键词：半导体器件,集成电路,规范,半导体,SEMICONDUCTORDEVICES,INTEGRATEDCIRCUIT,INTEGRATEDCIRCUITS,SPECIFICATION,SPECIFICATIONS,SEMICONDUCTORS

GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范.pdf

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