会议论文《设计加固SRAM单元在VDSM工艺下的性能评估》发表于第十二届计算机工程与工艺全国学术年会（NCCET08）。该文针对超深亚微米（VDSM）工艺下SRAM单元的可靠性问题，提出并评估了多种设计加固方法。研究通过仿真和实验分析了不同加固方案对SRAM性能的影响，为提高存储器在先进工艺节点下的稳定性提供了理论支持和实践参考。
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