会议论文《高频存储器测试芯片设计》发表于第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08)。该文针对高频存储器的测试需求，提出了一种高效测试芯片设计方案。通过优化电路结构和测试方法，提升了测试速度与准确性，为高速存储器的可靠性评估提供了有效手段。
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