会议论文《碳膜失效机理研究》发表于中国电子学会第十五届电子元件学术年会，探讨了碳膜在电子器件中的失效原因及机制。文章通过实验分析与理论研究，揭示了碳膜在不同环境条件下的性能退化过程，为提高电子元件的可靠性提供了重要参考。该研究对优化碳膜材料设计和延长器件寿命具有重要意义。
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