会议论文《端口电测技术在失效分析定位中的应用》发表于中国电子学会第十四届青年学术年会。该文探讨了端口电测技术在电子器件失效分析中的实际应用，通过精确测量端口参数，有效定位故障点，提高故障诊断效率。研究为电子产品的可靠性评估和维修提供了新思路，具有重要的工程价值。
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