会议论文《电子元器件内部水汽含量与密封性关系的研究——有关氦质谱细检漏的军用标准应当修改》探讨了电子元器件内部水汽含量与密封性能之间的关系。研究指出，现行军用标准中关于氦质谱细检漏的方法可能存在不足，建议进行修订以提高检测精度。该论文为中国电子学会第十五届电子元件学术年会的重要成果，对提升电子设备可靠性具有重要意义。
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