会议论文《浅析存储器的测试原理及方法》发表于第五届中国测试学术会议，主要探讨了存储器测试的基本原理与常用方法。文章分析了存储器在制造和使用过程中可能存在的故障类型，并介绍了多种有效的测试技术，如自检测试、模式测试等。通过对测试方法的比较与总结，为提高存储器可靠性提供了理论支持和技术参考。
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