会议论文《正电子谱学技术及在高分子材料微结构表征中的应用》介绍了正电子谱学在高分子材料研究中的最新进展。该技术通过分析正电子的寿命和湮灭特性，能够有效揭示材料的微观结构信息。文章详细讨论了其在高分子链段运动、缺陷分析及相分离研究中的应用，为高分子材料的性能优化提供了重要手段。
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