会议论文《某天线失效的机理分析和改进》发表于第六届电子产品防护技术研讨会，主要探讨了天线在实际应用中失效的原因及解决措施。文章通过实验与数据分析，揭示了天线失效的主要机理，如材料老化、结构损坏和环境因素影响等。同时，提出了相应的改进方案，以提高天线的可靠性和使用寿命，为电子设备的防护设计提供了重要参考。
文档为pdf格式，0.27MB，总共4页。
举报
