电子元器件和电子设备的静电放电试验比较 - 第六届电子产品防护技术研讨会.pdf

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2026-1-12 16:41 | 查看全部 阅读模式

会议论文《电子元器件和电子设备的静电放电试验比较》发表于第六届电子产品防护技术研讨会,探讨了不同电子元器件和设备在静电放电测试中的表现差异。文章分析了多种测试方法和标准,旨在提高电子产品的抗静电能力。研究对实际应用中的防护措施提供了重要参考,有助于提升电子设备的可靠性和安全性。

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电子元器件和电子设备的静电放电试验比较 - 第六届电子产品防护技术研讨会
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