会议论文《扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了在扩展相容性扫描树结构中如何有效设计测试响应压缩器。该研究旨在提高数字电路测试效率，减少数据传输量，提升故障覆盖率。通过优化压缩器结构，论文提出了一种高效的数据压缩方法，适用于复杂集成电路的测试过程。
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