会议论文《扫描型红外焦平面非均匀性校正》发表于第19届中国过程控制会议，探讨了红外成像系统中因探测器响应不一致导致的图像质量问题。文章提出了一种针对扫描型红外焦平面的非均匀性校正方法，有效提高了图像质量与检测精度。该研究对提升红外成像系统的性能具有重要意义，为相关领域的技术发展提供了理论支持和实践参考。
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