会议论文《大规模集成电路相关测试标准的剖析》发表于第二十届电工理论学术年会，探讨了当前大规模集成电路测试中的关键标准与技术要求。文章分析了现有测试方法的局限性，并提出了优化建议，旨在提升测试效率与可靠性。该研究对集成电路设计与制造领域的标准化工作具有重要参考价值。
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