会议论文《先进测试手段边界扫描技术在板极测试开发中的应用》发表于2008年中国高端SMT学术会议。文章探讨了边界扫描技术（JTAG）在电路板测试中的实际应用，分析了其在提高测试效率和降低故障诊断成本方面的优势。通过实例说明该技术如何优化测试流程，提升产品质量与可靠性，为SMT行业提供了有价值的参考。
文档为pdf格式，0.23MB，总共5页。
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