会议论文《一种反熔丝FPGA的抗辐射性能研究》探讨了反熔丝技术在FPGA中的应用及其在辐射环境下的稳定性。该研究针对核反应堆等高辐射场合,分析了反熔丝FPGA的抗辐射能力,提出了改进方案以提升其可靠性和耐久性,为高辐射环境下电子设备的设计提供了理论支持和技术参考。
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