会议论文《TiO2表面包覆致密SiO2包膜量的研究》探讨了二氧化钛（TiO2）表面包覆致密二氧化硅（SiO2）薄膜的工艺与性能关系。研究通过实验分析不同包膜量对TiO2颗粒表面特性及应用性能的影响，为提高钛白粉的稳定性和功能性提供了理论依据和技术支持。该论文在2008年全国钛白行业年会上发表，对相关领域的技术发展具有重要参考价值。
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