会议论文《Detecting Opens in Fan-out Mode for Flash Testing》发表于第五届中国测试学术会议，主要探讨了在闪存测试中如何检测扇出模式下的开路故障。该研究针对集成电路测试中的关键问题，提出了一种有效的检测方法，提高了测试效率和准确性。论文结合实际测试数据，分析了开路故障的特征，并给出了相应的解决方案，对提升闪存测试质量具有重要意义。
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