AT89C2051测试方法的研究与实现 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会.pdf

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2026-1-12 07:16 | 查看全部 阅读模式

会议论文《AT89C2051测试方法的研究与实现》探讨了AT89C2051单片机的测试技术,旨在提高其在微电子领域的应用可靠性。文章介绍了测试方法的设计与实现过程,分析了关键测试参数及其实现方式,为相关电路的检测与评估提供了理论依据和实践指导。

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AT89C2051测试方法的研究与实现 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
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