会议论文《高速串行数据收发器中BIST的设计》探讨了在高速串行数据收发器中实现内置自测试（BIST）技术的方案。该文针对高速通信系统中测试效率低的问题，提出了一种高效的BIST结构，能够有效提高测试覆盖率并降低测试成本。文章详细分析了BIST模块的硬件设计与测试算法，并通过实验验证了其可行性与优越性，为高速集成电路的测试提供了重要参考。
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