系统抗辐射加固及性能评估技术概述 - 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会.pdf

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2026-1-11 21:09 | 查看全部 阅读模式

会议论文《系统抗辐射加固及性能评估技术概述》来自第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会,全面介绍了系统在辐射环境下的加固技术与性能评估方法。文章分析了抗辐射设计的关键技术,包括材料选择、电路布局和冗余设计,并探讨了性能评估的指标与测试方法,为提升电子系统的抗辐射能力提供了理论支持和技术参考。

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系统抗辐射加固及性能评估技术概述 - 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会
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