电路板测试方法探讨 - 2009中国高端SMT学术会议.pdf

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2026-1-11 20:41 | 查看全部 阅读模式

会议论文《电路板测试方法探讨》发表于2009年中国高端SMT学术会议,主要探讨了现代电路板测试技术的发展与应用。文章分析了多种测试方法的优缺点,包括在线测试(ICT)、自动光学检测(AOI)和X射线检测等,旨在提高电路板的检测效率和可靠性。作者结合实际案例,提出了优化测试流程的建议,对提升电子制造质量具有重要参考价值。

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电路板测试方法探讨 - 2009中国高端SMT学术会议
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