会议论文《氧化锌压敏电阻老化机理再探索》在中国电子学会敏感技术分会第十六届电压敏学术年会上发表。该文深入探讨了氧化锌压敏电阻在长期使用过程中的老化机制，分析了其性能退化的主要因素，提出了新的研究思路和实验方法，对提升压敏电阻的可靠性和使用寿命具有重要意义。
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