会议论文《晶格取向对铜氧化失效的影响》探讨了不同晶格取向对铜材料在氧化过程中失效行为的影响。研究通过实验分析表明，晶格取向显著影响铜的氧化速率和失效模式。该成果为提高铜基材料的耐氧化性能提供了理论依据，对电子电镀及表面处理技术具有重要参考价值。
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