会议论文《射频同轴电缆屏蔽衰减测试方法的比较》在高品质射频电缆技术研讨会上发表，探讨了不同测试方法在评估射频同轴电缆屏蔽性能方面的有效性与准确性。文章对比分析了多种标准测试流程，旨在为行业提供更可靠、一致的测试依据，提升产品质量与兼容性。
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