会议论文《对CST仿真中漏泄同轴电缆衰减因素的探讨》针对漏泄同轴电缆在CST仿真中的衰减问题进行了深入分析。文章探讨了影响电缆衰减的关键因素，如材料特性、结构设计及电磁场分布等，提出了优化仿真参数的方法，以提高模拟精度和实用性。该研究为高品质射频电缆的设计与应用提供了理论支持和技术参考。
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