基于虚拟仪器的氢化纳米硅薄膜应变系数测量系统的设计 - 2009中国仪器仪表与测控技术大会.pdf

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2026-1-11 16:00 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于虚拟仪器的氢化纳米硅薄膜应变系数测量系统的设计》介绍了利用虚拟仪器技术构建的测量系统,用于精确测定氢化纳米硅薄膜的应变系数。该系统提高了测量的精度与灵活性,为材料科学和传感器研究提供了有效工具。论文展示了系统的硬件配置与软件设计,强调了虚拟仪器在现代测量中的优势。

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基于虚拟仪器的氢化纳米硅薄膜应变系数测量系统的设计 - 2009中国仪器仪表与测控技术大会
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