会议论文《基于伪对称编码的测试数据压缩方法》发表于第十三届全国容错计算学术会议。该文提出一种新的测试数据压缩方法，利用伪对称编码技术有效减少测试数据量，提高测试效率。研究针对集成电路测试中的数据存储与传输问题，通过优化编码策略，在保证测试覆盖率的同时显著降低数据冗余，具有重要的实际应用价值。
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