会议论文《嵌入式微处理器的可测性技术研究》发表于第十三届计算机工程与工艺会议(NCCET09’)，探讨了嵌入式微处理器在设计和测试过程中的可测性问题。文章提出了一系列提高系统可测性的方法，旨在提升测试效率和故障诊断能力，对嵌入式系统的可靠性具有重要意义。
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