一种数字IC测试仪逻辑功能测试单元的设计 - 2009四川省电子学会半导体与集成技术专委会学术年会.pdf

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2026-1-11 12:03 | 查看全部阅读模式

会议论文《一种数字IC测试仪逻辑功能测试单元的设计》介绍了数字IC测试仪中逻辑功能测试单元的设计方法。该文提出了一种高效、可靠的测试方案，能够对数字集成电路进行逻辑功能验证，提升测试效率和准确性。研究针对测试单元的结构和工作原理进行了详细分析，为数字IC的自动化测试提供了理论支持和技术参考。

文档为pdf格式，0.71MB，总共4页。