会议论文《一种针对SoC的自保持模拟IP核测试外壳设计》提出了一种用于SoC中模拟IP核的测试方法。该设计通过构建自保持的测试外壳，提高了测试效率与可靠性。文章针对传统测试方法中存在的不足，提出了创新性的解决方案，为SoC的测试与验证提供了新的思路。
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