会议论文《X射线光电子能谱在薄膜材料分析中的应用》发表于2009年全国第二届电磁材料及器件学术会议。该文系统介绍了X射线光电子能谱（XPS）技术在薄膜材料成分分析、化学状态研究及表面结构表征中的应用。通过实际案例，展示了XPS在电磁材料研究中的重要价值，为薄膜材料的性能优化提供了理论依据和技术支持。
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