TiO2薄膜电阻开关特性研究 - 第十三届计算机工程与工艺会议(NCCET09’).pdf

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2026-1-11 11:36 | 查看全部 阅读模式

会议论文《TiO2薄膜电阻开关特性研究》发表于第十三届计算机工程与工艺会议(NCCET09’),探讨了二氧化钛薄膜在电阻开关效应中的表现。研究通过实验分析了TiO2薄膜的电学特性,揭示了其在低电压下实现电阻状态转换的机制。该成果对新型存储器和忆阻器的研发具有重要意义,为未来集成电路设计提供了理论支持。

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TiO2薄膜电阻开关特性研究 - 第十三届计算机工程与工艺会议(NCCET09’)
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