会议论文《SoC测试系统校准技术概述》发表于第十九届全国测控、计量、仪器仪表学术年会，主要探讨了片上系统（SoC）测试中的校准技术。文章分析了当前测试系统在精度和稳定性方面面临的挑战，并提出了有效的校准方法，以提高测试结果的可靠性。该研究对提升测试系统的性能具有重要参考价值。
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