会议论文《QUAD类芯片的视觉检测与定位技术研究》发表于2009年中国仪器仪表与测控技术大会。该文针对QUAD类芯片的检测与定位问题，提出了一种基于视觉技术的解决方案。通过图像处理和模式识别方法，实现了芯片的精准定位与缺陷检测，为自动化生产提供了技术支持。
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