会议论文《SRAM辐射效应测试系统设计》发表于第十三届计算机工程与工艺会议(NCCET09’)，主要探讨了针对SRAM器件在辐射环境下的性能测试方法。该文设计了一种高效的测试系统，能够准确评估辐射对SRAM存储单元的影响，为提高电子设备的抗辐射能力提供了重要参考。
文档为pdf格式，0.67MB，总共4页。
举报
