NoC的低功耗快速测试 - 第十三届全国容错计算学术会议.pdf

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2026-1-11 11:15 | 查看全部 阅读模式

会议论文《NoC的低功耗快速测试》发表于第十三届全国容错计算学术会议,探讨了网络芯片(NoC)在保证性能的前提下如何实现低功耗与快速测试。文章提出了一种高效的测试方法,旨在减少测试时间与能耗,提高系统可靠性。该研究对NoC设计中的测试策略进行了优化,具有重要的理论与应用价值。

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NoC的低功耗快速测试 - 第十三届全国容错计算学术会议
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