会议论文《飞航BIT技术应用探讨及展望》发表于第三届国防科技工业试验与测试技术发展战略高层论坛，重点分析了飞航导弹中内置自检（BIT）技术的应用现状与发展趋势。文章探讨了BIT技术在提升装备可靠性、降低维护成本方面的重要作用，并对未来技术发展路径进行了展望，为相关领域的研究和工程实践提供了参考依据。
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