会议论文《集成电路芯片的射频测试技术 - 2010年全国半导体器件技术研讨会》探讨了射频测试在集成电路设计与制造中的关键作用。文章分析了射频测试的技术难点，提出了多种提高测试精度和效率的方法，对提升芯片性能具有重要指导意义。
文档为pdf格式，0.37MB，总共3页。
举报
