会议论文《基于模拟集成电路BIST的ARMA模块设计》介绍了利用内置自测试（BIST）技术对ARMA模块进行故障检测与诊断的方法。该研究针对模拟集成电路的测试难题，提出了一种高效的ARMA模块设计方案，提升了系统的可靠性和测试效率。论文在第十九届全国测控、计量、仪器仪表学术年会上发表，为相关领域的技术发展提供了重要参考。
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