会议论文《金属纳米颗粒-量子点的显微成像 - 2010中国材料研讨会》探讨了金属纳米颗粒与量子点在显微成像技术中的应用。文章介绍了多种先进的成像方法，如扫描电子显微镜和透射电子显微镜，用于观察纳米材料的结构和性质。研究对于理解纳米材料的光学和电子特性具有重要意义，为相关领域的科研提供了理论支持和技术参考。
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