离子阱质谱中目标质量数和阱深两个参数的优化 - 2010年全国质谱大会暨第三届世界华人质谱研讨会.pdf

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2026-1-11 05:52 | 查看全部阅读模式

会议论文《离子阱质谱中目标质量数和阱深两个参数的优化》探讨了如何通过调整目标质量数和阱深参数来提高离子阱质谱的分析性能。该研究针对质谱分析中的关键参数进行了系统优化，旨在提升检测灵敏度和分辨率。文章结合实验数据与理论分析，提出了优化策略，为离子阱质谱的应用提供了重要参考。

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