会议论文《MOSFET漏源电压谷底时刻微分检测法》提出了通过检测MOSFET漏源电压的微分变化来确定谷底时刻的方法，旨在提高电力电子变换器的开关性能与可靠性。该方法在第三届中国高校电力电子与电力传动学术年会上发表，为功率器件控制提供了新的思路。
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