会议论文《温度-高度试验准确性研究》发表于2010年中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会。该文探讨了温度-高度试验在可靠性评估中的准确性问题，分析了试验条件对测试结果的影响因素，提出了提高试验精度的方法和建议，为电子设备的可靠性设计与验证提供了理论支持和实践指导。
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