会议论文《基于STM32处理器的磁探测器及铁磁材料应力检测》介绍了利用STM32微控制器设计的磁探测系统，用于检测铁磁材料的应力变化。该研究结合了磁传感技术和嵌入式系统，实现了对材料内部应力的非破坏性检测，具有较高的精度和实时性。论文在第四届全国信号和智能信息处理与应用学术会议上发表，展示了在无损检测领域的创新成果。
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